分析測定機器一覧
高周波誘導結合プラズマ発光分析装置(ICP/AES)
原理及び構成
この装置は励起源部・試料導入部・発光部・分光部・測光部から成り立っています。試料はネブライザーによって霧化され噴霧室で細かい霧状粒子だけが選別されます。そして誘導結合プラズマ（ICP:Inductively Coupled Plasma)によって励起されます。分光器内に各元素の発光線の焦点に検出器が配置されており、同時に多元素の測定を行います。
特 徴
アキシャル（軸方向観測）とラジアル（側面方向観測）を切り替えることなく同時に測定できます。最大７３元素を同時に測定することが可能です。
当センターでの主な分析試料例
工場排水、環境水、土壌などの金属分析など